Resultados de la búsqueda

Filtrar
7 Resultats
ELECTROMIGRATION IN ULSI INTERCONNECTI..

CHER MING TAN / TAN CHER MING

WORLD SCIENTIFIC

9789814273329

Idioma: INGLES

PVP
127,87
Sense devolució
GRAPHENE AND VLSI INTERCONNECTS

CHER MING TAN / UDIT NARULA / VIVEK SANGWAN

JENNY STANFORD PUBLISHING

9789814877824

Idioma: INGLES

PVP
201,95
Sense devolució
PVP
68,06
Sense devolució
PVP
135,82
Sense devolució
PVP
62,03
Sense devolució
PVP
134,47
Sense devolució
Col·lecció Springer Series in Reliability Engineering
Enquadernació Altre format llibre
PVP
103,99